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薄膜测厚仪 薄片 隔膜厚度测定仪

更新时间:2021-04-26

简要描述:

CHY-C3薄膜测厚仪 薄片 隔膜厚度测定仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

型号:CHY-C3厂商性质:生产厂家浏览量:139
品牌其他品牌测量范围0~2 mm(常规) 0~6 mm;12 mm(可选)
外形尺寸461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)mm重量25kg
测量精度0.1 μm产地国产
加工定制

CHY-C3薄膜测厚仪 薄片 隔膜厚度测定仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。薄膜测厚仪 薄片 隔膜厚度测定仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

               

技术特征

  1. 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

  2. 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差

  3. 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择

  4. 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

  5. 实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断

  6. 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性

  7. 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果

  8. 系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看

  9. 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据

 

测试标准 该设备满足多项国家和标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

 

基础应用

薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等

 

技术指标

测试范围 0~2 mm(常规) 0~6 mm;12 mm(可选)

分辨率 0.1 μm

测量速度 10 次/min (可调)

测试压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

接触面积 50 mm²(薄膜);200 mm²(纸张)

注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

进样步距 0~1000 mm

进样速度 0.1~99.9 mm/s

电源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重 25 kg

产品配置:主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头

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